1、电化学迁移(ecm)电化学迁移是在直流电压的影响下发生的离子运动。在潮湿条件下,金属离子会在阳极形成,并向阴极迁移(见图6.1),形成枝晶。当枝晶连接两种导体时,便造成了短路,而且枝晶会因电流骤增而发生熔断。2、导电阳极丝(caf)目前公认的caf成因是铜离子的电化学迁移随着铜盐的沉积。在高温高湿条件下,pcb内部的树脂和玻纤之间的附力劣化,促成玻纤表面的硅烷偶联剂产生水解,树脂和玻纤分离并形成可供离子迁移的通道。pcb/pcba绝缘失效失效机理绝缘电阻是表征pcb绝缘性能的一个简单而且容易测量的指标，绝缘失效是指绝缘电阻减小。一般,影响绝缘电阻的因素有温度、湿度、电场强度以及样品处理等。绝缘失效通常可能发生在pcb表面或者内部,前者多见于电化学迁移(ecm)或化学腐蚀,后者则多见于导电阳极丝(caf)。1、电化学迁移(ecm)电化学迁移是在直流电压的影响下发生的离子运动。在潮湿条件下,金属离子会在阳极形成,并向阴极迁移(见图6.1),形成枝晶。当枝晶连接两种导体时,便造成了短路,而且枝晶会因电流骤增而发生熔断。用于印制电路板、阻焊油墨、绝缘漆、胶粘剂，封装树脂微间距、ic封装材料等绝缘材料性能退化特性评估。东莞sir和caf表面绝缘电阻测试
电阻测试pcb/pcba绝缘失效是指电介质在电压作用下会产生能量损耗，这种损耗很大时，原先的电能转化为热能，使电介质温度升高，绝缘老化，甚至使电介质熔化、烧焦，**终丧失绝缘性能而发生热击穿。电介质的损耗是衡量其绝缘性能的重要指标，电介质即绝缘材料，是电气设备、装置中用来隔离存在不同点位的导体的物质，通过各类导体间的绝缘隔断功能控制电流的方向。电介质长期受到点场、热能、机械应力等的破坏。在电场的作用下，电介质会发生极化、电导、耗损和击穿等现象，这些现象的相关物理参数可以用相对介电系数、电导率、介质损耗因数、击穿电压来表征。陕西pcb绝缘电阻测试市场在电子设备领域，表面阻抗测试sir测试被认为是评估用户线路板组装材料可靠性的有效评估手段。
sir电阻测试可以应用于各种不同的电路中。无论是简单的电路还是复杂的电路，都可以使用sir电阻测试来测量电阻值。这种测试方法不仅适用于实验室环境，也适用于工业生产中。在工业生产中，sir电阻测试可以用来检测电路中的故障，提高生产效率。除了测量电阻值，sir电阻测试还可以用来检测电路中的其他问题。例如，它可以用来检测电路中的短路和断路。通过测量电磁场的变化，可以判断电路中是否存在短路或断路问题。这种测试方法可以帮助工程师快速定位电路中的问题，并进行修复。
绝缘电阻测量:-偏置电压:100v 2v-测量电压为100v时无极化变化-**小时间斜坡到100v=2秒-测量时间=60秒-被测样品应与其他样品电隔离限流电阻:**小1mohm与pcb串联在线测试程序：1）pcb干燥后立即进行绝缘电阻测量;2）将样品放入环境测试箱，并连接到在线测量设备。在试验结束前，不能取出样品，也不能打开试验箱。（组数据）3）施加温度至85℃(持续时间3小时)，然后施加湿度至85%的相对湿度(持续时间另一个3小时)，没有偏置电压（第二组数据）。在85℃，85%湿度下放置96小时后，测量绝缘电阻为ir初始值（第三组数据）4）开始输出偏置电压100v-标记为0小时，开始试验;智能电阻具有更加便捷的操作和数据处理能力。
从监控的方式看：都是通过监控其绝缘阻值变化作为**重要的判断指标；故很多汽车行业或实验室已习惯上把ecm/sir从广义上定义为caf的一种（线与线之间的表面caf）。ecm/sir与caf的联系与差异差异点：从产生的原因看：ecm/sir是在pcb的表面产生金属离子的迁移；而caf是发生在pcb的内部出现铜离子沿着玻纤发生缓慢迁移,进而出现漏电；从产生的现象看：ecm/sir会在导体间出现枝丫状(dendrite)物质；而caf则是出现在孔~孔、线~线、层~层、孔~线间，出现阳极金属丝；智能电阻的应用范围更加广，可以满足不同行业和领域的需求。湖南pcb板电阻测试系统
选择智能电阻时，用户需要考虑测量范围和分辨率。东莞sir和caf表面绝缘电阻测试
离子迁移（ecm/sir/caf)的要因分析与kok登录的解决方案从设计方面：越小的距离（孔~孔、线~线、层~层、孔~线间）越易造成离子迁移现象；kok登录的解决方案：结合制程能力与材料能力，优化设计方案；（当然重点还是必须符合客户要求）玻纤纱束与孔排列的方向；纱束与孔的方向一致时，会造成离子迁移的可能性比较大；kok登录的解决方案：尽可能避免或减少纱束与孔排列一致的可能性，但此项受客户产品设计的制约；产品的防湿保护设计；kok登录的解决方案：选择比较好的防湿设计，如涉及海运，建议采用pe袋或铝箔袋包装方式；东莞sir和caf表面绝缘电阻测试